เวลา 09.00-10.30 น.
• คุณลักษณะทางมาตรวิทยาของเครื่องวัด
• ผลการวัดทางคุณลักษณะทางมาตรวิทยาของเครื่องวัดต่อความผิดพลาดในการวัด
• ผลของ Drift ต่อความผิดพลาดในการวัด และแนวทางการกำกับดูแล
• Terminology ที่ควรทราบ
เวลา 10.45-12.15 น.
• ข้อกำหนดมาตรฐาน ISO 9001, IATF 16949, ISO/IEC 17025, ISO 13485 ในการสอบเทียบเครื่องวัด
• ความหมายที่ต่างกันของการสอบเทียบ และผลกระทบ
• ความสำคัญของการเก็บรักษาผลสอบเทียบตามที่มาตรฐานกำหนด
เวลา 13.15-14.45 น.
• การทวนสอบ drift ของเครื่องวัด
• การใช้คำแนะนำช่วงเวลาสอบเทียบ เช่น NATA, HOKLAS และสมมติฐานที่ควรทราบเพื่อลดความผิดพลาดใน การนำช่วงเวลาสอบเทียบแบบตายตัวมาใช้
• องค์ประกอบที่มีผลต่อการประเมินช่วงเวลาสอบเทียบ
เวลา 15.00-16.30 น.
• รูปแบบและวิธีการประเมินช่วงเวลาสอบเทียบเครื่องวัด